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电子产品的可靠性试验大致包括:
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高低温、温度冲击、运输振动、跌落、高加速寿命试验等。其中高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。
HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。
扩展资料:
电子产品可靠性测试是为了评估产品在规定的寿命期间内,在预期的使用、运输或储存等所有环境下,保持功能可靠性而进行的活动。是将产品暴露在自然的或人工的环境条件下经受其作用,以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能,并分析研究环境因素的影响程度及其作用机理。
电子产品可靠性试验是对产品进行可靠性调查、分析和评价的一种手段。试验结果为故障分析、研究采取的纠正措施、判断产品是否达到指标要求提供依据。
参考资料来源:百度百科-电子产品可靠性试验
可靠性测试包括哪些?详情可关注亿博告知可靠性测试项目有哪些,分别对可靠性测试项目进行讲解.
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